NAPSON HF-100DC Silicon Bulks/Ingots接触式直流较化少子寿命测试仪Lifetime tester详细内容
光电导性衰减方式(JIS 直流较化方式)
Silicon Bulks Life-time测试的**标准机型
测试范围:50~100,000μS
电阻率要求:1~10,000Ω?cm
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单位注册资金未知。
本公司主营德国,RH2035霍尔效应测试仪器,以“让顾客放心是我们永恒的目标,不断进取是公司生存和发展之本”为企业的质量方针,本着追求高品位,服务于社会的质量理念,欢迎来电咨询价格、洽谈合作!